Comprobación de microchips en oblea de silicio ... 
Media-ID: B:410977276
Nutzungsrecht:
Kommerzielle und redaktionelle Nutzung
Comprobación de microchips en oblea de silicio con estación de sonda. Fabricación de semiconductores de cristal.Enfoque selectivo.
| Vorschau |
Varianten
Mediainfos
|
Dieses Bild mit unserem Kundenkonto ab 0,95 € herunterladen!
|
||||
 |
||||
| Standardlizenz: JPG | ||||
| Format | Bildgröße | Downloads | ||
|
Print XXL 15 MP |
3500x2333 Pixel 29,63x19,75 cm (300 dpi) |
1 | ||
|
||||
| Standardlizenz: JPG | ||||
| Format | Bildgröße | Netto | Brutto | Preis |
|
Web S 0,5 MP |
500x333 Pixel 16,93x11,28 cm (75 dpi) |
3,90 € | 4,17 € | |
|
Print M 2 MP |
1000x667 Pixel 8,47x5,65 cm (300 dpi) |
6,90 € | 7,38 € | |
|
Print XL 8 MP |
2000x1333 Pixel 16,93x11,29 cm (300 dpi) |
12,90 € | 13,80 € | |
|
Print XXL 15 MP |
3500x2333 Pixel 29,63x19,75 cm (300 dpi) |
15,90 € | 17,01 € | |
|
||||
| Merchandisinglizenz: JPG | ||||
| Format | Bildgröße | Netto | Brutto | Preis |
|
Print XXL 15 MP |
3500x2333 Pixel 29,63x19,75 cm (300 dpi) |
79,90 € | 85,49 € | |
| Media-ID: | B:410977276 |
| Aufrufe: | 1 |
| Beschreibung: | Comprobación de microchips en oblea de silicio con estación de sonda. Fabricación de semiconductores de cristal.Enfoque selectivo. |
Nutzungslizenz
| Nutzungsrecht: | Kommerzielle und redaktionelle Nutzung |
Userinfos
| Hinzugefügt von: | [email protected] |
| Weitere Medien von [email protected] |
Bewertung
| Bewertung: |
|
Suchbegriffe
| Keywords: |
